硅外延层晶体完整性检查方法 腐蚀法

2025-02-23 06:28:22 阅读 检测标准
CMA资质认定

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CNAS认可证书

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ISO认证

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高新技术企业

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GB/T 14142-1993

硅外延层晶体完整性检查方法 腐蚀法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】1993-02-06
  • 【CCS分类】H26金属无损检验方法
  • 【ICS分类】29.045半导体材料

GB/T 14142-2017

硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法

  • 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
  • 【发布日期】2017-09-29
  • 【CCS分类】H25金属化学性能试验方法
  • 【ICS分类】77.040金属材料试验