硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
GB/T 14144-2009
硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2009-10-30
- 【CCS分类】H80半金属与半导体材料综合
- 【ICS分类】29.045半导体材料
GB/T 14144-1993
硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1993-02-06
- 【CCS分类】H26金属无损检验方法
- 【ICS分类】49.035航空航天制造用零部件
GB/T 1557-2018
硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2018-09-17
- 【CCS分类】H17半金属及半导体材料分析方法
- 【ICS分类】77.040金属材料试验
GB/T 1557-2006
硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】2006-07-18
- 【CCS分类】H17半金属及半导体材料分析方法
- 【ICS分类】77.040.01金属材料试验综合
GB/T 1557-1989
硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
- 【发布单位或类别】 CN-GB国家标准
- 【发布日期】1989-03-31
- 【CCS分类】H21金属物理性能试验方法
- 【ICS分类】77.040.30金属材料化学分析
