表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法

2025-03-14 09:36:26 阅读 检测标准
CMA资质认定

CMA资质认定

CNAS认可证书

CNAS认可证书

ISO认证

ISO认证

高新技术企业

高新技术企业

英文标题
Surface chemical analysis—Sputter depth profiling—Optimization using layered systems as reference materials
制修订
修订
归口单位
全国表面化学分析标准化技术委员会
采标关系
等同ISO 14606:2022
项目周期
12个月
英文标题
Surface chemical analysis-Sputter depth profiling-Optimization using layered systems as reference materials
归口单位
全国表面化学分析标准化技术委员会
采标关系
等同ISO 14606:2000