表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
CMA资质认定
CNAS认可证书
ISO认证
高新技术企业
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国标 计划 |
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20232769-T-469
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正在批准 |
| 国际标准分类号（ICS） 71.040.40 中国标准分类号（CCS） G 04 | 采 |
英文标题
Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry — Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
制修订
修订
归口单位
全国表面化学分析标准化技术委员会
采标关系
等同ISO 14237:2010
项目周期
16个月
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国家 标准 |
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GB/T 20176-2006 |
现行 |
| 国际标准分类号（ICS） 71.040.40 中国标准分类号（CCS） N33 | 采 |
英文标题
Surface chemical analysis-Secondary-ion mass spectrometry-Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
归口单位
全国表面化学分析标准化技术委员会
采标关系
等同ISO 14237:2000
